Rückblick:

 

Aufgebrochen waren wir zur durchaus optimistisch. Denn in unserem Gepäck befanden sich Entwicklungsneuheiten, die es teilweise, frisch wie sie waren, noch nicht mal in die Messevorschau geschafft hatten.

In den drei Tagen auf der Messe aber wurden unsere Erwartungen dann fast noch mal übertroffen. Beeindruckend, wie groß das Interesse an unseren neu- und weiterentwickelten Maschinen war. Schön, dass es in einigen Fällen sogar direkt zu Vertragsabschlüssen kam. Und angenehm, dass wir mit Ihnen mal wieder in so freundlicher und offener Atmoshpäre kommunizieren durften.

Für all das an dieser Stelle ein ganz herzliches Danke an Sie!

Um hier nur auf zwei der vielen Themen, die auf der Messe eine Rolle spielten, kurz einzugehen:

Da war zum einen das neue optische Selbstüberwachungssystem miho AIM (Advancend Introspect Module, zum Patent angemeldet). miho AIM ist ein wichtiger Baustein auf dem Weg von der einfachen Kontrolle zur sich permanent selbst kontrollierenden Kontrolle. Mit ihm findet das folgende Problem seine Lösung: Verunreinigte oder auch nur mit einzelnen Wassertropfen benetzte Scheiben der optischen Kontrollsysteme, insbesondere des Bodenkontrollmoduls, können zu verfälschten Kontrollergebnissen führen, wenn sie zu spät entdeckt werden. Mit der Entwicklung von miho AIM liegt nun ein System vor, das hier eine Überprüfung in kurzen Abständen automatisch vornimmt. Und diese Kontrolle ist obendrein umfassender und genauer als eine, die mittels Testflaschen durchgeführt wird. Ein erster Schritt hin zur sich selbst überwachenden Kontrolle ist also geschafft.

Gewissermaßen herstellungsfrisch haben wir auf der Messe auch ausgepackt: Das Steuergeräte-Modul miho Master. Es ist die gemeinsame Basis der Auswerteeinheiten der neuen miho Kontrollgeräte. Sein eleganter innerer Aufbau und seine hohe und vielseitige Leistungsfähigkeit fasziniert den Ingenieur, seine einfache Pflege den Anwender.

miho AIM und miho Master: Zwei Module, die in verschiedenen miho Kontrollsystemen zum Einsatz kommen. Zwei Schritte in Richtung Zukunft der Inspektionstechnologie.